Cотрудники института
 
 
 
   

Кожеватов Илья Емельянович
заведующий лабораторией 372, д.ф.-м.н.

Образование:
1969 г. – окончил с радиофизический факультет Горьковского государственного университета им. Н.И. Лобачевского.
1969-1971 служил в рядах Советской армии.
В 1996 г. защитил кандидатскую диссертацию «Радиофизические методы анализа интегральных характеристик спектра солнечного оптического излучения»» по специальности 01.04.03 – радиофизика.
В 2003 году он защитил диссертацию «Широкополосная оптическая интерферометрия в задачах солнечной экспериментальной астрофизики» на соискание учёной степени доктора физ.-мат. наук по специальности 01.04.03 – радиофизика.

Область научных интересов:
Широкополосная оптическая интерферометрия, нанометрология, наблюдательная солнечная астрофизика.

Профессиональная карьера:
С 1971 по 1974 год работал на радиозаводе в г. Хмельницкий УССР.
C 1974 по 2012 год работал в НИРФИ в должности старшего инженера, младшего научного сотрудника, старшего научного сотрудника, заведующего лабораторией.
С 2012 году по н/вр. работает в ИПФ РАН ведущим научным сотрудником, заведующим лабораторией 372.

Членство в профессиональных организациях:
Член диссертационного совета Д 212.161.01 НИРФИ.

Награды, премии, гранты:
Почетная грамота от Федерального агентства по науке и инновациям России.

Педагогическая деятельность:
Научный руководитель аспирантов ИПФ РАН и НИРФИ.

Количество публикаций:
Около 110 научных публикаций, из них 36 статьей в реферируемых научных журналах, 8 патентов РФ

Наиболее значительные работы и результаты:

И.Е. Кожеватов, Е.Х. Куликова, Н.П. Черагин, Интерференционный метод измерения центральных моментов спектральных линий, Оптика и спектроскопия,1995, Т. 78, N 4,стр. 536-543.
В работе обоснован метод нетрадиционного спектрального анализа для одновременного измерения интегральных параметров спектральных линий: площади, смещения, полуширины, асимметрии и т.д. Даны основные положения нового метода. Приведены примеры реализации метода на основе двух- и многолучевых интерферометров.

И.Е. Кожеватов, Е.Х. Куликова, Н.П. Черагин, Фазомодуляционные методы контроля интерферометров Фабри-Перо, Оптика и спектроскопия, 1996, Т. 80, N 6, стр. 1011-1017
Рассмотрены методы контроля оптических промежутков интерферометров Фабри-Перо при помощи различных схем модуляции фаз интерферограммы. Предложены две схемы контроля: посредством модуляции частоты и путем модуляции угла падения зондирующего излучения. Показано, что привязка контролируемого параметра к эталонам частоты позволяет стабилизировать селективные характеристики интерферометра с точностью до 10-7- 10-8.

I.Е.Kozhevatov, N.Р.Cheragin, E.H.Kulikova, Fabry-Perot Etalon  as a Fourier-Tachometer, Solar Physics, 1996, v.168, р. 251-258
A tachometer for measuring the displacements of center of gravity of spectral lines profiles is developed. The implementation of the device basically a Fabry-Perot etalon is given. The spectral  shifts are determined using the frequency of a laser as reference.

И.Е. Кожеватов, Е.А. Руденчик, Н.П. Черагин, Е.Г., Е.Х. Куликова, Е.Г. Безрукова  Метод абсолютной калибровки эталонных пластин для интерферометрического контроля поверхностей. Оптика и спектроскопия, 2001, Т.  90, N 1, стр. 127-135.
Описан метод абсолютной калибровки эталонных пластин интерферометров для измерения профилей поверхностей оптических элементов. Он базируется на решении обратной задачи восстановления профиля поверхности по данным относительных измерений трех пластин путем минимизации целевой функции. Предложенный метод учитывает гравитационный прогиб эталонной пластины и позволяет получить ее профиль с точностью ~l/1000 (для l=6328А). В работе представлен алгоритм калибровки, а также теоретические выкладки и результаты экспериментов.

И.Е. Кожеватов, Е.Х. Куликова, Широкополосная оптическая интерферометрия  высоких порядков, Известия ВУЗов, серия «Радиофизика», 2003, N.1, стр. 72-81
Представлен метод получения широкополосного оптического излучения с синтезируемой временной когерентностью. Описаны созданные на основе метода широкополосные интерферометры Физо для контроля плоских и сферических поверхностей, а также для удаленного контроля оптической толщины образцов. Созданные устройства измеряют характеристики оптических элементов с диаметром до 300 мм и точностью до единиц ангстрем в реальном времени.

И.Е. Кожеватов, Д.Е. Силин, Оптические интерференционные методы получения изображений с субволновым разрешением, Известия ВУЗов. Радиофизика, 2009, т.52, №1, с.73-84.
В статье представлены два новых оптических интерференционных метода измерения характеристик поверхностей с разрешениями, не ограниченными дифракционным пределом. Один из методов основан на регистрации интерферограмм ближнего светового поля, в котором содержится информация о субволновой структуре поверхности. Идея другого метода заключается в преобразовании ближнего поля в распространяющиеся волны с последующим измерением их параметров вдали от исследуемой поверхности. Предложенные методы были опробованы в численных экспериментах.

Кожеватов И.Е., Иошпа Б.А., Обридко В.Н., Руденчик Е.А., Куликова Е.Х., Вторая версия солнечного спектромагнитографа ИЗМИРАН. Часть 1. Конструкция прибора., Приборы и техника эксперимента, 2011, № 4, Стр. 570–576.
Описана вторая версия солнечного спектромагнитографа ИЗМИРАН, предназначенного для измерений полного вектора магнитного поля и лучевых скоростей в солнечной фотосфере. В отличие от традиционных схем в спектромагнитографе используется  анализатор поляризации солнечного оптического излучения параллельного типа. Последнее стало возможным благодаря разработанным авторами методам прецизионной калибровки схем с многоэлементными приемниками излучения. Новая схема спектромагнитографа позволяет измерять параметры Стокса двух магнитоактивных линий с точностью, ограниченной только квантовыми шумами приемников.

Руденчик Е.А., Обридко В.Н., Кожеватов И.Е., Безрукова Е.Г.,Вторая версия солнечного спектромагнитографа ИЗМИРАН. Часть 2. Алгоритмы предварительной обработки данных, Приборы и техника эксперимента, 2011, № 4, Стр. 570–576.
Описана система экспериментов и алгоритмов обработки данных, позволяющих устранить систематические ошибки, обусловленные инструментальными эффектами спектромагнитографа.

Силин Д.Е., Кожеватов И.Е., Куликова Е.Х., Пигасин А.В., Сперанс­кий С.Б., Бельков С.А., Деркач И.Н., Лобачёв Д.И.,  Чернов И.Е.,  Устройство и характеристики 630 мм интерферометра фазового сдвига. Приборы и техника эксперимента, 2017, № 3, стр. 83-90
Разработан и создан широкоапертурный интерферометр Физо для измерения различных характеристик оптических элементов с плоскими поверхностями. Интерферометр имеет два поля зрения: 630 мм с поперечным разрешением 0,63 мм/пиксель и 100 мм с поперечным разрешением 0,1 мм/пиксель. Благодаря выполнению калибровки эталонных пластин продемонстрированная абсолютная точность измерений интерферометра составила λ/1000 (λ = 632,8 нм) по RMS на поле зрения 630 мм.

Силин Д.Е., Кожеватов И.Е., Куликова Е.Х., Пигасин А.В., Сперанский С.Б., Бельков С.А., Деркач И.Н., Лобачёв Д.И.,  Чернов И.Е., Требования к условиям калибровки в широкоапертурных интерферометрах Физо, Приборы и техника эксперимента, 2017, №  3, стр. 91-99.
В работе рассмотрены проблемы, которые возникают при калибровке эталонных пластин широкоапертурных интерферометров, и приведены пути их решения. Показано, что путем выбора механизма закрепления эталонных пластин можно обеспечить повторяемость их формы при перестановках. Продемонстрировано, что температурные деформации формы поверхности эталонов могут быть определены из численной модели. Данные меры позволили выполнить калибровку эталонных пластин 630 мм интерферометра с точностью l/1000 (l=632,8 нм) по RMS.