Cотрудники института
 
 
 
   

Силин Дмитрий Евгеньевич
научный сотрудник, к.ф.-м.н.

Образование:
2007 г. – окончил с отличием радиофизический факультет Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, получил степень магистра радиофизики по направлению «Радиофизика»
2007-2010 гг. – учеба в аспирантуре ИПФ РАН
В 2012 г. защитил кандидатскую диссертацию «Методы оптической интерферометрии в задачах контроля пространственной структуры сложных объектов» по специальности 01.04.03 - радиофизика, научный руководитель – И.Е. Кожеватов

Область научных интересов:
Оптическая интерферометрия, нанометрология, преодоление дифракционного предела в оптике.

Профессиональная карьера:
2004 г. – н/вр. – лаборант-исследователь, старший лаборант-исследователь, младший научный сотрудник, научный сотрудник ИПФ РАН.

Награды, премии, гранты:
Стипендия им. К. Минина (2004 г.)
Диплом второй степени на конкурсе работ молодых ученых ИПФ РАН (2008 г.)
Стипендия им. Г.А. Разуваева правительства Нижегородской области (2009-2010 г.)

Количество публикаций:
Около 30 научных публикаций, из них 8 статей в реферируемых научных журналах.

Наиболее значительные работы и результаты:

V.V. Zelenogorsky, A.A. Solovyov, I.E. Kozhevatov, E.E. Kamenetsky, E.A. Rudenchik, O.V. Palashov, D.E. Silin, E.A. Khazanov, High-precision methods and devices for in situ measurements of thermally induced aberrations in optical elements, Applied Optics, 2006, v.45, p.4092-4101.

An optical system that comprises two devices for remote measurements, a broadband optical interferometer and a scanning Hartmann sensor, is described. The results of simultaneous measurements with both devices and the results of numerical modeling of sample surface heating are presented.

И.Е. Кожеватов, Д.Е. Силин, Е.А. Руденчик, В.В. Зеленогорский, Н.П. Черагин, О.В. Палашов, Е.Х. Куликова, Интерференционная схема с поперечным сдвигом пучков для удаленного прецизионного контроля параметров оптических элементов, Известия ВУЗов. Радиофизика, 2007, т.50, №7, с.638-648.

В статье представлена новая интерференционная схема с поперечным сдвигом пучков для удаленного контроля параметров оптических элементов. Приведены результаты исследований точности измерений и рассмотрены основные источники шумов представленной схемы. Достоинствами схемы являются высокая точность (экспериментально реализована точность выше λ/3000, где λ — длина волны зондирующего излучения), быстродействие, позволяющее исследовать нестационарные процессы, и селективность, дающая возможность исследования заданной поверхности сквозь другие оптические элементы схемы.

A.M. Sergeev, E.A. Khazanov, I.E. Kozhevatov, D.E. Silin, Subnanometer characterization of large aperture optical components using broad-band interferometry, Proc. SPIE, 2008, v.7022, p.70220I-70220I-11.

A new method of high order broad-band optical interferometry is presented. The core concept is to use surface control of broad-band radiation with a complex, specially prepared spectrum. High order broad-band interferometers have several merits: selectivity along the line of sight, high noise immunity (and correspondingly high accuracy) and the possibility of carrying out precise measurements without mechanically moving the reference or test plates. These interferometers permit control of large aperture optical elements (including remote control) with nanometer and even subnanometer accuracy. Some application examples of high order broad-band interferometry are demonstrated.

И.Е. Кожеватов, Д.Е. Силин, Оптические интерференционные методы получения изображений с субволновым разрешением, Известия ВУЗов. Радиофизика, 2009, т.52, №1, с.73-84.

В статье представлены два новых оптических интерференционных метода измерения характеристик поверхностей с разрешениями, не ограниченными дифракционным пределом. Один из методов основан на регистрации интерферограмм ближнего светового поля, в котором содержится информация о субволновой структуре поверхности. Идея другого метода заключается в преобразовании ближнего поля в распространяющиеся волны с последующим измерением их параметров вдали от исследуемой поверхности. Предложенные методы были опробованы в численных экспериментах.

А.К. Потемкин, Е.И. Гачева, В.В. Зеленогорский, Е.В. Катин, И.Е. Кожеватов, В.В. Ложкарев, Г.А. Лучинин, Д.Е. Силин, Е.А. Хазанов, Д.В. Трубников, Г.Д. Ширков, М. Курики, Д. Уракава, Лазерный драйвер для фотокатода линейного ускорителя электронов, Квантовая электроника, 2010, т.40, №12, с.1123–1130.

Описана лазерная система, предназначенная для работы с фотокатодным инжектором электронов для линейного ускорителя со следующими параметрами излучения на длине волны 262 нм (четвертая гармоника излучения Nd:YLF-лазера). Цуги импульсов (макроимпульсы) с частотой следования 5 Гц и длительностью 900 мкс состоят из микроимпульсов длительностью 8 пс с энергией 1.4 мкДж, следующих с частотой 2.708 МГц. Эта частота перестраивается в пределах ±32 кГц и стабилизируется с точностью 10 Гц внешним сигналом. В результате использования акустооптического модулятора, управляемого сигналом обратной связи, среднеквадратичное отклонение энергии микроимпульсов в первой и второй гармониках составило 2.5% и 3.6% соответственно. Используя спадающий участок зависимости эффективности преобразования излучения второй гармоники в четвёртую от интенсивности излучения второй гармоники, мы уменьшили среднеквадратичное отклонение энергии микроимпульсов на частоте четвертой гармоники до 2.3% при эффективности преобразования из первой гармоники в четвертую 27%.

Д.Е. Силин, Метод строгого решения задач дифракции монохроматических электромагнитных волн на периодических структурах, Известия ВУЗов. Радиофизика, 2010, т.53, №11, с.743-756.

В статье представлен метод строгого решения задач дифракции монохроматических электромагнитных волн на многих типах периодических структур. Он основан на преобразовании уравнения Гельмгольца и граничных условий к определенной системе интегральных уравнений и последующем строгом решении этой системы.

D.E. Silin, I.E. Kozhevatov, New methods of near-field holography, Proc. SPIE, 2011, v.8074, p.80740N-80740N-7.

Two optical interference methods of surfaces characterization with subwavelength resolution are presented. One of the methods is based on recording of the interferograms of the near-field, which contains information about subwavelength structure of the surface. The concept of the other method consists in transformation of the near-field evanescent waves to propagating waves and measuring of their parameters far from the surface. Proposed methods have been tested numerically.

A.A. Kuzmin, D.E. Silin, A.A. Shaykin, I.E. Kozhevatov, E.A. Khazanov, Simple method of measurement of phase distortions in laser amplifiers, JOSA B, 2012, v.29, №6, p.1152-1156.

Two alternative methods for determining phase distortions of radiation in the heated active element of a high-power Nd:glass laser are compared: direct phase measurement with the Mach–Zehnder interferometer and phase front reconstruction from measured distributions of depolarization factor. It is shown that the latter method can quite quickly and accurately determine the wavefront distortions of laser radiation with minimal interference to the optical scheme of the laser.

Д.Е. Силин, И.Е. Кожеватов, Интерферометр с дифракционной волной сравнения на основе одномодового световода, Оптика и спектроскопия, 2012, т.113, №2, с.242-247.

На основе модификации интерферометра с дифракционной волной сравнения разработан метод измерения оптических полей от удаленных объектов и внешних источников, в котором опорный пучок получается из исследуемого пучка путем фильтрации его пространственного спектра одномодовым световодом. Для исключения влияния на результаты измерений фазовых ошибок, вызванных неидеальностью элементов оптической схемы, разработана процедура калибровки интерферометра, позволяющая определить эти ошибки с целью дальнейшего их вычитания из измеряемых распределений фазы поля.

I.L. Snetkov, D.E. Silin, O.V. Palashov, E.A. Khazanov, H. Yagi, T. Yanagitani, H. Yoneda, A. Shirakawa, K.-i. Ueda, A.A. Kaminskii, Study of the thermo-optical constants of Yb doped Y2O3, Lu2O3 and Sc2O3 ceramic materials, Opt. Express, 2013, v.21, p.21254-21263.

Thermally induced depolarization and thermal lens of three Konoshima Chemical Co. laser-ceramics samples Yb3+:Lu2O3(CYb≈1.8 at.%), Yb3+:Y2O3(CYb≈1.8 at.%), and Yb3+:Sc2O3 (CYb≈2.5 at.%) were measured in experiment at different pump power. The results allowed us to estimate the thermal conductivity of the investigated ceramic samples and compare their thermo-optical properties. The thermo-optical constants P and Q and its sign measured for these materials at the first time.